ＡＤ変換には、逐次比較式やΣΔ式のＡＤ変換があります。
これらのＡＤ変換の精度を求める方法として、ダイナミックテスト法があります。
ＡＤ変換は、入力されたアナログ値をデジタル値に変換します。
この時、アナログからデジタルに変換される精度が問題になります。
これまでの経験から、入力に変化の少なくても、連続動作している場合には、ダイナミックテスト法が非常に有効です。

ダイナミックテストには、ビート法、ヒストグラム法、サインカーブフィット法、離散有限フーリエ変換法の４種類あります。（下記参考文献）

弊社では、サインカーブフィット法を用いて精度確認を行っています。
構成を下図に示します。

重要な事は、高精度サイン波形は、ＡＤ変換精度以上でないと試験ができません。

実際に測定された結果を下図に示します。 同じ１６ビットのＡＤ変換を使用して、入力回路を変更した際に得られた精度波形です。

縦軸に有効精度が得られています。
図Aでは、１６ビットの下位±２ビットが振れていて、有効精度は１４．３ビットです。
図Bでは、１６ビットの下位±１ビットが振れていて、有効精度は１５．３ビットです。
また、これらの波形からノイズ成分が得られ、ノイズ解析に非常に有効な方法です。

上図の結果を得るのに、参考文献からの資料を基に、弊社独自のソフトで解析しています。

ＴＩ社ＡＤコンバータ性能のダイナミックテスト方法
http://focus.tij.co.jp/jp/lit/an/jaja208/jaja208.pdf